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5G OTA测试系统
在5G之前,大多数无线设备测试都是使用导线方法进行的。这包括测试调制解调器芯片组,射频(RF)参数测试以及完整的设备功能和性能验证。无线(OTA)测试方法主要用于天线性能测试和设备多输入多输出(MIMO)性能测量。5G毫米波(mmWave)设备代表了无线行业的颠覆性转变,因为OTA是所有无线电测试案例测试方法中唯一可行的。 在mmWave频率下,较高的路径损耗和较短的波长需要可控的定向天线(增益) - 通常是相控阵天线。除了传统的LTE和Frequency range1(FR1)单极天线之外,许多5G设备还需要多组mmWave天线。由于mmWave天线必须直接连接到RF前端(RFFE)放大器,因此无法以较低频率的方式访问和测试设备,需要采用辐射测试方法。 传统的传导RF测试方法在测量解决方案和被测设备(DUT)之间使用高性能同轴电缆。 OTA用空中链路取代该电缆,DUT通过该链路直接与作为测试解决方案一部分的天线进行通信。为了确保良好的RF环境(即可测试的传输线以及消除外部干扰),OTA连接最好在暗室内部进行管理。
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用于高速数字设计验证、调试和一致性测试的测试与测量解决方案
联网速度的提升需要有更快的内存和串行总线通信作为支撑。 外围组件高速互连(PCIe®)扩展总线从 PCIe 4.0 提升到了 PCIe 5.0,以便满足对更高速度的需求。 对于内存也是如此,双倍速(DDR)内存从 DDR 4.0 演进到了 DDR 5.0。 随着串行数据通信速度的提升,每个层级都需要进行精确的高速测试。 在更高的速度下进行测试时,需要面向所有的最新标准执行全方位一致性测试。
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用于等离子体诊断的毫米波反射计
等离子体是物质的四个基本形态之一,近年来被广泛应用于能源、材料以及国防等方面。微波反射法是微波诊断等离子体常用的方法之一通常被用来确定等离子体的电子密度分布和电子密度扰动。在等离子体中,反射微波的临界面位置随入射微波频率的变化而变化,通过改变入射微波的频率并由反射仪测量反射波和参考波的相位变化,可以得到等离子体的电子密度分布;如果入射微波的频率保持恒定,则可以测量等离子体密度的扰动。
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微波暗室射频解决方案
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毫米波ROF系统光纤与无线传输系统
毫米波RoF系统具有大容量、设备轻巧、抗干扰能力强等特点,适合应用于高速铁路的车地通信建立微微蜂窝等无线通信方式,具有很大的市场潜力。 为了降低成本、提高系统稳定性,毫米波RoF系统结构精简方案,以高速数据传输为目的的光载波直接QPSK调制RoF系统;寻求光直接调制的RoF系统上行传输中如何获得纯净本振的方法:以及光纤色散对高速毫米波RoF系统的影响等一系列问题,来完善提升现有的毫米波RoF系统,迎合无线通信系统未来发展的需要。
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传输速率为10Gbps的太赫兹无线通信系统
太赫兹频段由于其宽带特性,在通信、雷达、特征频谱检测等领域具有巨大应用潜力。为了使短距离无线通信的数据速率达到10Gbps,利用光电结合技术以THz波段(125GHz)为载波,建立太赫兹无线通信系统。如下图所示使用62.5GHz信号调制光波,通过平面分波电路产生相隔0.125THz光信号,此光信号受发射数据的调制,然后进入PD,进行光电转换,产生0.125TH组的调制波,经过放大后馈入天线发射,接收端经天线后进入低噪放,检波成基带信号,经过放大,数据恢复。
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